Publikation:
Statistical Analysis of Test Data in Microelectronics Industry
Datum
2020
bachelor_thesis
van Schie, A., & Ganz, N. M. (2020). Statistical Analysis of Test Data in Microelectronics Industry. https://orix.ost.ch/handle/item/16688
Zusätzliche Indizierung
| Studienabschluss | BSc |
|---|---|
| Studiengang | Informatik |
| Titel | Statistical Analysis of Test Data in Microelectronics Industry |
| Sprache | en |
| Autor / Autor:in | van Schie, Alexander, Ganz, Nicolas Manuel |
| Betreuer:in | Dietrich, Jürg |
| Projektpartner | ams International AG, Rapperswil, SG |
| Datum der Veröffentlichung | 2020-02-16 |
| Thematische Schwerpunkte (Schlagwörter) | Software |
| Weitere Angaben | BS Informatik |
Metriken
Zitationen
