Publikation:
Statistical Analysis of Test Data in Microelectronics Industry
Datum
2020
Bachelor thesis
Ganz, N., & van Schie, A. (2020). Statistical Analysis of Test Data in Microelectronics Industry. https://orix.ost.ch/handle/20.500.14978/19812
Zusammenfassung
Zusätzliche Indizierung
| Departement / Abteilung | Departement Informatik |
|---|---|
| Institut/ Bereich | Abteilung Informatik |
| Institution | HSR Hochschule für Technik Rapperswil |
| Studienabschluss | Bachelor of Science (BSc) |
| Studiengang | Computer Science |
| Titel | Statistical Analysis of Test Data in Microelectronics Industry |
| Autor:in | Ganz, Nicolas van Schie, Alexander |
| Betreuer:in | Himmelmann, Lin |
| Datum der Veröffentlichung | 2020 |
| submissions.sections.form.dc.identifier.eprints.label | 826 |
| Thematische Schwerpunkte | Optimization Testing and Simulation Visualization Industry Python |
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Erwerbsdatum: 2026-07-19
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