Publikation:
Statistical Analysis of Test Data in Microelectronics Industry
Datum
2020
other
Crisafulli, M., & Monzón, D. (2020, December 18). Statistical Analysis of Test Data in Microelectronics Industry. https://orix.ost.ch/handle/20.500.14978/19903
Zusammenfassung
Zusätzliche Indizierung
| Departement / Abteilung | Departement Informatik |
|---|---|
| Institut/ Bereich | Abteilung Informatik |
| Institution | HSR Hochschule für Technik Rapperswil |
| Titel | Statistical Analysis of Test Data in Microelectronics Industry |
| Autor:in | Crisafulli, Marco Monzón, Dominic |
| Datum der Veröffentlichung | 2020 |
| Thematische Schwerpunkte | Testing and Simulation Business oriented Industry Statistics |
| Zusätzliche Informationen | Studentische Projektarbeit / Vertiefungsprojekt |
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4 seit hinterlegt am 2026-06-23
Erwerbsdatum: 2026-07-19
Zitationen
